Equipment

所有装置

XPS(JEOL)

表面の化学状態や組成を決めることができます。

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FE-SEM(日立)

STEMモードでも観察可能。超高分解能ではありませんが,ナノ粒子の観察程度であれば問題なし。


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XRD (Panalytical)

 


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TGA-MS(リガク)

予備のGC-MSと連結しました。吸着分子や分解ガスの分析に便利。

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触媒評価装置 BelCat II(マイクロトラックベル)

固体触媒のガス吸着解析等に使います。


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顕微IR(島津)


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リサイクル分取カラムクロマトグラフィー

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アルゴン雰囲気グローブボックス(UNICO)


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LC-MS (島津)

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GC-MS(島津)

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自動分取カラムシステム(山善)

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Coming Soon

電子スピン共鳴(ESR)装置

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走査型プローブ顕微鏡

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卓上型X線回折装置

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