所有装置
XPS（JEOL）
表面の化学状態や組成を決めることができます。
FE-SEM（日立）
STEMモードでも観察可能。
卓上型Ｘ線回折装置 (Panalytical)
TGA-MS（リガク）
予備のGC-MSと連結しました。吸着分子や分解ガスの分析に便利。
触媒評価装置 BelCat II（マイクロトラックベル）
固体触媒のガス吸着解析等に使います。
顕微IR（島津）
リサイクル分取カラムクロマトグラフィー
アルゴン雰囲気グローブボックス（UNICO）
LC-MS (島津)
GC-MS（島津）
自動分取カラムシステム（山善）
電子スピン共鳴（ＥＳＲ）装置
走査型プローブ顕微鏡
